CTA剂量计的基本特性
剂量测量原理
辐照后的吸收剂量可以通过使用一台分光光度计或专门的测量工具(Nisshin High Voltage FDR-01)测量薄膜的吸光度(于280nm处测的)的增加来确定。
D = [ (ODa - ODo) / K ] * (0.125 / t) * f
这里ODo和ODa分别为辐照前和辐照后的吸光度。ODo的标准值大约为0.1。K是一个与CTA剂量计的灵敏度相关的常数。每一批通常都需要校准,K的名义值如下:
对于电子束辐照:0.0063
对于伽玛射线辐照:0.0081
对于离子束辐照:取决于离子的种类和能量,由于LET的不同。“T”(mm)是薄膜的厚度。修正系数f被用来补偿由于辐照后经过的时间带来的暂时变化。对于电子束辐照后1-3个小时的f值为1.0。对于其它条件,补偿基于图(4)获得。
仪器给出的测量结果显示出CTA的吸收剂量,当需要计算出个别样本的吸收剂量时它应该被修正。
注意
- 产品保存时间的延长可能导致吸光度的增加,尤其是薄膜卷外圈几层。使用前请检查吸光度。不要使用吸光度增加的部分。
- 建议将产品保存在黑暗、干燥和常温条件的地方。
- 已上部分数据可能随产品批号的变化而变化。
- 如果您对产品有任何疑问,请联系当地的分销商。
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